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試作檢討報告
Page 1of 文件編號:ENG-
發文單位
工程
發文日期
2006.12.12
結 論 說 明
機 種
L82
□ 再次試作 日期: BOM
試作重點 數量
□ 可試產 預計日期: 數量
試產BOM:
試作BOM
試做版
試作重點
檢討電氣與機構性能
試作日期
2006/12/12
試作次數
1
試作數量
10
良品數量
參與人員
鄭伯達 曾瓊瓊 孔令軍 鄧選林 魏軍 彭繼剛 李洪杰 趙本昔
問 題
分 析 說 明
對 策 說 明
改善日期
物
料
狀
況
1. PCB 料號:L0226034V1.0
2. Sensor IC:PAN3601
3. MCU:EM79M612 20PIN(燒錄)
組
裝
功
能
1. 美工線間隙(0.8㎜):
2. 上、下段差(1.0A0.2㎜):
3. LENS 至桌面距(2.2㎜A0.1㎜):ok
4. 組立狀況:
5. CABLE繞線: ok
產
品
1. R.L.M鍵: 按鍵卡死1pcs
2. Z軸: OK 10PCS
3. X.Y線性:OK
4. 限流電阻:306歐姆
其
它
1. C1輿側板干涉
2. 側鍵卡死
3. QE側試按鍵限位柱摔斷
4. 按鍵卡死
1. 修改C1位置
2. 側鍵扁頂針位凹陷,四周突出來,導致側鍵卡死,知會廠商改善。將四周的突出位做平整。12.25廠商送樣確認
3. 知會廠商改善。成型時請不要將原料內參水口料和其它的雜料使用,12.20發出改善,待送樣確認。
4. 前端螺絲松出可改善。1pcs很難抓出問題點。現機構部分為舊的物料,生產線生產出現同樣的問題,可以列入一起改善。具體方案待檢討。
生 技 單 位
品 管
制 造
研 發 單 位
電 子
機 構
IE
單位主管
QE